CMOSのイメージ センサーの基本原則

概念
CMOSはNMOS （nタイプMOSFET）およびシリコンの薄片の型板のPMOSを作り出すことができる集積回路の設計過程であるComplementary金属酸化物半導体と（CMOSとして短縮される）呼ばれる。基本的な要素はの（pタイプMOSFET） NMOSおよびPMOSが物理的特性で補足であるのでCMOSと呼ばれる。
CMOSがコンピュータ電気器具、マイクロ制御回路、マイクロプロセッサおよび他のデジタル論理の循環方式、またCMOSのイメージ センサーのような光学機器の静的なRAMメモリを、作るのに使用することができる。
イメージ センサーの役割は見られるか、分析されるか、または貯えることができるイメージ センサーは構造のタイプに従って分類することができる電気的信号に入射光（光子）を変えることであり:前部照らされ、バック照らされ、そして積み重ねられる

CMOSのカメラの基本的な構成
CMOSのカメラはレンズ（レンズ）、破片を処理するISPを感じるCMOSのイメージおよびIOインターフェイス破片から成っている。

CMOSのイメージ センサーの役割:

光電転換:電気的信号に光シグナルを変えること;
充満蓄積:信号充満として発生させた充満を集めなさい;
信号の移動:検出ノードに信号充満を動かしなさい;
信号検出:電気的信号（電圧）に信号充満を変えること;
アナログ-デジタル転換:ディジタル信号に電圧信号を変えなさい;
ISPモジュールの機能:ISPのパイプライン処理の流れによってCMOSのイメージ センサーによって集められる良質および表示可能なYUVのフォーマットのイメージに元のイメージを（通常バイヤー フォーマットで）変えなさい。
CMOSモジュールの基本的な構造
CMOSのイメージ センサーは保護ガラス、センサーの破片、ワイヤー結束、パッケージおよび接触のパッドで一般に構成される。図に示すように、異なったCMOSのイメージ センサーは別のパッケージのフォーマットを使用し、PCB板と接続するのに接触のパッドを使用する。

CMOSセンサーの破片の構造
CMOSのイメージ センサーの破片は通常イメージの敏感なセル アレイ、列の運転者、コラムの運転者、タイミング制御の論理、広告のコンバーター、データ・バス出力インターフェイスおよび図に示すように制御インタフェースから、成っている。これらの部品は通常同じシリコン チップで統合され、働くプロセスは再調節された、光電転換、統合および読み出しに一般に分けることができる。

初めに外的なライトがピクセル配列を照らすとき、光電効果は行われ、対応する充満はピクセル単位で発生する。
列の選択論理の単位のゲート ピクセル単位の対応する列要求に応じて。列ピクセル単位のイメージ信号はそれぞれのコラムの信号バスを通して対応するアナログ信号の演算処理装置およびA/Dのコンバーターに送信され、出力のためのデジタル画像信号に変えられる。列の選択論理の単位はピクセル配列を漸進的にまたはinterlacedlyスキャンできる。列の選択論理の単位はコラムの選択論理の単位にイメージの窓の抽出機能を実現するために協力する。
アナログ信号の演算処理装置の主関数は信号を増幅し、SN比を改善することである。さらに、合格品質の実用的なカメラを、さまざまな制御回路は得るために、露光時間制御および自動利得制御のような破片に、含まれていなければならない。
破片を作るため
所定の音に従って作動するためには、多数のタイミング制御信号は使用されなければならない。カメラの適用を促進するためには、破片はまた同期信号、ライン開始信号、分野の開始信号、等のようなある時報を、出力するように要求される。